Tracking oxygen vacancy migration in memristor devices using operando hard X-ray photoelectron spectroscopy

F F. Capocasa A A. K. Rumaiz C C. Weiland R R. Goul A A. Marshall I I. Harding A A. Ozbay A A. J. Kuczewski S S. Karmakar M M. Boukhicha S S. Miryala G G. A. Carini D D. P. Siddons J J. C. Woicik J J. Z. Wu

Article Details

Volume / Issue Vol. 16, Issue 1
Published December 02, 2025
ISSN 2045-2322
Publisher Nature Portfolio

Journal Info

Scientific Reports

Nature Portfolio

ISSN: 2045-2322 Open Access Life Sciences

Authors (15)

F

F. Capocasa

A

A. K. Rumaiz

C

C. Weiland

R

R. Goul

A

A. Marshall

I

I. Harding

A

A. Ozbay

A

A. J. Kuczewski

S

S. Karmakar

M

M. Boukhicha

S

S. Miryala

G

G. A. Carini

D

D. P. Siddons

J

J. C. Woicik

J

J. Z. Wu