F. Capocasa, A. K. Rumaiz, C. Weiland, R. Goul, A. Marshall, I. Harding, A. Ozbay, A. J. Kuczewski, S. Karmakar, M. Boukhicha, S. Miryala, G. A. Carini, D. P. Siddons, J. C. Woicik, J. Z. Wu. "Tracking oxygen vacancy migration in memristor devices using operando hard X-ray photoelectron spectroscopy." Scientific Reports, 2025. doi:10.1038/s41598-025-30246-4