A. G. Jacobs, K. R. Gann, E. G. Rocco, D. J. Pennachio, K. Hogan, J. R. Grandusky, N. A. Mahadik, J. C. Culbertson, J. A. Freitas, J. M. Woodward, J. C. Gallagher, V. Soukhoveev, A. Osinsky, R. T. Bondokov, R. L. Myers-Ward, K. D. Hobart, M. A. Mastro. "Wafer scale characterization of bulk AlN substrates and homoepitaxial growth." Applied Physics Letters, 2026. doi:10.1063/5.0325469