X. Tian, A. B. Renz, M. A. Yildirim, K. Melnyk, N. Iosifidis, R. Jefferies, S. Pain, D. Walker, J. A. Gott, N. S. Agbo, P. Taylor, M. Boccarossa, L. Maresca, A. Irace, V. A. Shah, M. Antoniou, P. A. Mawby, P. M. Gammon. "Investigation of temperature-dependent oxide capacitance in paraelectric monoclinic doped HfO2/SiO2 gate stacks implemented on 4H-SiC." Applied Physics Letters, 2026. doi:10.1063/5.0315887